发明名称 半導体装置の作製方法、及び、半導体装置
摘要 A semiconductor element (103) is formed on a first surface of the substrate (164). A resin layer (163) is formed over a second surface of the substrate which is opposite to the first surface of the substrate and on a part of the side surface of the substrate.
申请公布号 JP5844858(B2) 申请公布日期 2016.01.20
申请号 JP20140141905 申请日期 2014.07.10
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 高橋 秀和;山田 大幹;門馬 洋平;安達 広樹;山崎 舜平
分类号 H01L21/301;H01L21/336;H01L29/786;H01L31/10 主分类号 H01L21/301
代理机构 代理人
主权项
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