发明名称 |
用于检验镜片的方法和装置 |
摘要 |
本发明提供用于对隐形眼镜进行检验的一种系统和方法。照明系统对所述隐形眼镜的中心区域和外围区域进行照射,照射时所述隐形眼镜位于阳模与阴模之间的腔中。成像光学系统具有两个通道,所述两个通道捕获两个图像或合成的单一图像,以便对整个隐形眼镜进行检验。第一通道的成像光学系统的入射光瞳定位在远离模制工具处。所述第一通道的相机用于捕获所述隐形眼镜的中心区域的图像。第二通道的成像光学系统定位在所述模制工具的外面,但其入射光瞳定位在所述模制工具之内,或定位在所述模制工具的外面但实质上接近所述模制工具。这样使得所述第二通道的相机能够捕获所述隐形眼镜的外围区域的图像。 |
申请公布号 |
CN102822655B |
申请公布日期 |
2016.01.20 |
申请号 |
CN201180005697.6 |
申请日期 |
2011.02.23 |
申请人 |
联达科技检测私人有限公司 |
发明人 |
维克多·费多普拉柯夫;黄循威;任长坡 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01)I;G02C7/04(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
雷绍宁 |
主权项 |
一种用于对隐形眼镜的缺陷进行检验的方法,检验时所述隐形眼镜安置在位于阳模与阴模之间的腔中,所述方法包含:使用直射光线和有角度光线照射所述隐形眼镜;用双通道成像光学系统捕获从所述隐形眼镜透出的光线;配置所述双通道成像光学系统的第一通道以捕获从所述隐形眼镜的中心区域透出的所述光线;配置所述双通道成像光学系统的第二通道,所述第二通道的入射光瞳与所述双通道成像光学系统的第一通道的入射光瞳的位置不同,从而捕获从所述隐形眼镜的外围区域透出的所述光线;使用进入所述双通道成像光学系统的所述两个通道中的每个通道的光线来捕获各自图像,或捕获来自所述双通道成像光学系统的单一合成图像;以及处理所述两个图像或单一合成图像以检测隐形眼镜中的缺陷。 |
地址 |
新加坡新加坡市 |