发明名称 孔洞在先的硬掩模限定
摘要 本发明提供了一种半导体器件及制造方法,诸如,MTJ器件及制造MTJ器件的方法。该MTJ器件可以包括底部电极、MTJ堆叠件以及顶部电极,其中,使用孔洞填充技术形成该顶部电极。该顶部电极可以具有倾斜的侧壁。可以通过沉积对应的MTJ层来形成该MTJ堆叠件。可以在MTJ层上方形成并且图案化经过图案化的掩模,从而形成限定出顶部电极的开口。利用导电材料填充该开口,从而形成顶部电极。然后,将该顶部电极用作掩模来图案化MTJ层,从而形成MTJ堆叠件。本发明还提供了一种孔洞在先的硬掩模限定。
申请公布号 CN102956816B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201210025536.X 申请日期 2012.02.06
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 黄韦翰;刘世昌;徐晨祐;宋福庭;蔡嘉雄
分类号 H01L43/12(2006.01)I;H01L27/22(2006.01)I;H01L43/08(2006.01)I;G11C11/16(2006.01)I 主分类号 H01L43/12(2006.01)I
代理机构 北京德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;房岭梅
主权项 一种形成集成电路的方法,所述方法包括:提供衬底,所述衬底具有形成在其上的底部电极层和磁隧道结堆叠层;形成覆盖着所述磁隧道结堆叠层的掩模层;在所述掩模层中形成开口,以暴露出所述磁隧道结堆叠层的一部分;在所述开口中形成顶部电极;以及使用所述顶部电极作为掩模来图案化所述磁隧道结堆叠层,从而形成磁隧道结堆叠件,其中,所述开口具有倾斜的侧壁。
地址 中国台湾新竹