发明名称 |
孔洞在先的硬掩模限定 |
摘要 |
本发明提供了一种半导体器件及制造方法,诸如,MTJ器件及制造MTJ器件的方法。该MTJ器件可以包括底部电极、MTJ堆叠件以及顶部电极,其中,使用孔洞填充技术形成该顶部电极。该顶部电极可以具有倾斜的侧壁。可以通过沉积对应的MTJ层来形成该MTJ堆叠件。可以在MTJ层上方形成并且图案化经过图案化的掩模,从而形成限定出顶部电极的开口。利用导电材料填充该开口,从而形成顶部电极。然后,将该顶部电极用作掩模来图案化MTJ层,从而形成MTJ堆叠件。本发明还提供了一种孔洞在先的硬掩模限定。 |
申请公布号 |
CN102956816B |
申请公布日期 |
2016.01.20 |
申请号 |
CN201210025536.X |
申请日期 |
2012.02.06 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
黄韦翰;刘世昌;徐晨祐;宋福庭;蔡嘉雄 |
分类号 |
H01L43/12(2006.01)I;H01L27/22(2006.01)I;H01L43/08(2006.01)I;G11C11/16(2006.01)I |
主分类号 |
H01L43/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;房岭梅 |
主权项 |
一种形成集成电路的方法,所述方法包括:提供衬底,所述衬底具有形成在其上的底部电极层和磁隧道结堆叠层;形成覆盖着所述磁隧道结堆叠层的掩模层;在所述掩模层中形成开口,以暴露出所述磁隧道结堆叠层的一部分;在所述开口中形成顶部电极;以及使用所述顶部电极作为掩模来图案化所述磁隧道结堆叠层,从而形成磁隧道结堆叠件,其中,所述开口具有倾斜的侧壁。 |
地址 |
中国台湾新竹 |