发明名称 一种用于铜离子的光电化学分析检测方法
摘要 本发明公开了一种用于铜离子的光电化学分析检测方法,包括如下步骤:(1)用清洗溶剂清洗ITO导电玻璃待用;(2)用待测含铜离子的溶液和不同阶梯浓度的硝酸铜溶液分别配制含有0.05~0.2摩尔/升硝酸钾的混合溶液;(3)用ITO导电玻璃作为工作电极、铂丝作为对电极、银/氯化银作为参比电极,分别置于步骤(2)的混合溶液中,分别在-0.1~-0.3伏条件下沉积30~120分钟,生成纳米氧化亚铜半导体光阴极,并定量产生对应的光电流;(4)绘制铜离子-光电流对应关系曲线图,获得铜离子溶度。本发明方法为方便、简便、快速、超灵敏、高特异性及环境友好的铜离子光电化学分析检测方法。
申请公布号 CN103926304B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201410187198.9 申请日期 2014.05.05
申请人 盐城工学院 发明人 李红波;赵奇;李静;王伟
分类号 G01N27/48(2006.01)I 主分类号 G01N27/48(2006.01)I
代理机构 北京天平专利商标代理有限公司 11239 代理人 王雅辉
主权项 一种用于铜离子的光电化学分析检测方法,其特征在于包括如下步骤:(1)用清洗溶剂清洗ITO导电玻璃,然后用水冲洗干净后晾干待用;(2)用待测含铜离子的溶液和不同阶梯浓度的硝酸铜溶液分别配制含有0.05~0.2摩尔/升硝酸钾的混合溶液;(3)用步骤(1)得到的ITO导电玻璃作为工作电极、铂丝作为对电极、银/氯化银作为参比电极,分别置于步骤(2)的混合溶液中,分别在‑0.1~‑0.3伏条件下沉积30~120分钟,铜离子在ITO导电玻璃表面定量生成纳米氧化亚铜半导体光阴极,并定量产生对应的光电流;(4)绘制铜离子‑光电流对应关系曲线图,获得待测含铜离子溶液中的铜离子浓度。
地址 224051 江苏省盐城市建军东路211号