| 发明名称 | 半导体气敏元件的测试方法 | ||
| 摘要 | 一种半导体气敏元件的测试方法，属于元件测试领域，用于解决现有半导体气敏元件测试方法不完善的问题，技术要点是：具有：半导体气体传感器测试系统组建与测试的步骤，及对半导体气体传感器测试系统及半导体气敏元件性能分析的步骤。效果是：使得对于半导体气敏元件的测试环境、测试精度提供有力保障。 | ||
| 申请公布号 | CN105259215A | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
| 申请号 | CN201510776873.6 | 申请日期 | 2015.11.13 |
| 申请人 | 大连民族大学 | 发明人 | 杜海英;孙炎辉;王述刚 |
| 分类号 | G01N27/00(2006.01)I;G06N3/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人 | 胡景波 |
| 主权项 | 一种半导体气敏元件的测试方法，其特征在于，具有：半导体气体传感器测试系统组建与测试的步骤，及对半导体气体传感器测试系统及半导体气敏元件性能分析的步骤。 | ||
| 地址 | 116600 辽宁省大连市开发区辽河西路18号 | ||