| 发明名称 | 一种微波器件动态老化试验系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板（6），微波信号源（2）与程控电源（4）通过背板连接器（7）与老化试验板（6）输入端连接，老化试验板（6）输出端通过背板连接器（7）与微波信号分析仪（3）连接；解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行，由于这是一种静态老化方式，存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件等技术问题。 | ||
| 申请公布号 | CN204989343U | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
| 申请号 | CN201520643710.6 | 申请日期 | 2015.08.25 |
| 申请人 | 贵州航天计量测试技术研究所 | 发明人 | 邱云峰;袁帅;袁文 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人 | 商小川 |
| 主权项 | 一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板（6），其特征在于：微波信号源（2）与程控电源（4）通过背板连接器（7）与老化试验板（6）输入端连接，老化试验板（6）输出端通过背板连接器（7）与微波信号分析仪（3）连接。 | ||
| 地址 | 550009 贵州省贵阳市小河区红河路7号 | ||