| 发明名称 | 二氧化硅颗粒及其制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及二氧化硅颗粒及其制造方法。本发明提供一种二氧化硅颗粒，所述二氧化硅颗粒包含一次颗粒，所述一次颗粒的体积平均粒径为80nm～300nm、粒径分布指数为1.10～1.40、平均圆形度为0.70～0.92且圆形度分布指数为1.05～1.50，所述二氧化硅颗粒包含的圆形度为0.95以上的一次颗粒的比例以颗粒数计为10％以下。 | ||
| 申请公布号 | CN102295292B | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
| 申请号 | CN201010546805.8 | 申请日期 | 2010.11.11 |
| 申请人 | 富士施乐株式会社 | 发明人 | 钱谷优香;吉川英昭;奥野広良;野崎骏介;川岛信一郎;竹内荣 |
| 分类号 | C01B33/18(2006.01)I | 主分类号 | C01B33/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 丁香兰;庞东成 |
| 主权项 | 一种二氧化硅颗粒，所述二氧化硅颗粒包含一次颗粒，所述一次颗粒的体积平均粒径为80nm～300nm、粒径分布指数为1.10～1.40、平均圆形度为0.70～0.92且圆形度分布指数为1.05～1.50，所述二氧化硅颗粒包含的圆形度为0.95以上的一次颗粒的比例以颗粒数计为10％以下。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||