| 发明名称 | 用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法 | ||
| 摘要 | 公开了一种用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法。该系统和方法包括：用于独立测试管芯叠层内的每一个管芯的可重复利用的验证环境，而不需要同时运行叠层内的所有管芯。系统和方法包括将来自管芯验证测试的输入/输出(“IO”)轨迹从第一格式转换为第二格式，以提高性能。 | ||
| 申请公布号 | CN103226179B | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
| 申请号 | CN201210314114.4 | 申请日期 | 2012.08.29 |
| 申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 斯坦利·约翰;阿肖克·梅赫塔;桑迪·库马·戈埃尔;丁凯原 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人 | 章社杲;孙征 |
| 主权项 | 一种用于验证布置在管芯叠层内的多个管芯中的管芯的功能的方法，所述方法包括以下步骤：(a)可操作地将所述多个管芯中的第一管芯连接至测试台和第一外围模型；(b)验证所述第一管芯的功能，从而产生第一格式的第一输入/输出(IO)轨迹，所述第一格式是信号级格式，所述信号级格式是改值转储(“VCD”)格式；(c)使所述第一管芯与所述测试台断开；(d)将所述第一格式的第一输入/输出轨迹转换为第二格式的第一输入/输出轨迹，其中，所述第二格式是交易级格式，所述交易级格式是通用验证方法(“UVM”)格式；(e)可操作地将所述多个管芯中的第二管芯连接至所述测试台和第二外围模型；(f)将所述第二格式的第一输入/输出轨迹应用于所述测试台；以及(g)验证所述第二管芯的功能。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹 | ||