发明名称 一种多光谱图像SIFT特征提取和描述方法及其系统
摘要 本发明适用于图像处理技术领域,提供了一种多光谱图像SIFT特征提取和描述方法,包括以下步骤:步骤A:对多光谱图像建立多光谱图像矢量场模型;步骤B:分析所述多光谱图像矢量场模型中的矢量场尺度空间,在所述矢量场尺度空间中搜索与定位局部不变特征;步骤C:对提取的所述局部不变特征进行描述。采用所述的多光谱图像SIFT方法能提取和描述多光谱图像的局部不变特征,特征具有更好的鲁棒性和独特性,比现有方法具有更好的性能。
申请公布号 CN103325127B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201310179841.9 申请日期 2013.05.15
申请人 深圳大学 发明人 李岩山;谢维信;黄庆华
分类号 G06T7/40(2006.01)I 主分类号 G06T7/40(2006.01)I
代理机构 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人 陈健
主权项 一种多光谱图像SIFT特征提取和描述方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤A:对多光谱图像建立多光谱图像矢量场模型;步骤B:建立并分析所述多光谱图像矢量场模型中的矢量场尺度空间,在所述矢量场尺度空间中搜索与定位局部不变特征;所述步骤B包括以下步骤:步骤B1:根据如下公式得到所述多光谱图像f的矢量场尺度空间L<sub>c</sub>:L<sub>c</sub>={L<sub>c</sub>(x,y,kΩ)|k=1,2,....,m},其中<img file="FDA0000785192970000013.GIF" wi="960" he="56" />G<sub>n+2</sub>(x,y,kΩ)表示高斯核,<img file="FDA0000785192970000011.GIF" wi="1373" he="165" />G<sub>n+2</sub>(x,y,kΩ)中x表示x轴坐标,y表示y轴坐标,kΩ表示尺度空间的尺度,f(x,y)表示n个波段的多光谱图像,x表示x轴坐标,y表示y轴坐标,L<sub>c</sub>(x,y,kΩ)中x表示x轴坐标,y表示y轴坐标,kΩ表示尺度空间的尺度;步骤B2:在所述矢量场尺度空间L<sub>c</sub>中,通过相邻尺度图像的差分,获得矢量高斯差分图,表示为D(x,y,kΩ),其中D(x,y,kΩ)=L<sub>c</sub>(x,y,kΩ)‑L<sub>c</sub>(x,y,Ω),k为两相邻尺度空间尺度的倍数,<img file="FDA0000785192970000012.GIF" wi="769" he="311" />其中D<sub>ij</sub>是矢量空间中的多维矢量;步骤C:对提取的所述局部不变特征进行描述。
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