发明名称 互联结构模型化方法和互联资源配置向量自动生成方法
摘要 互联结构模型化方法和互联资源配置向量自动生成方法,属于FPGA技术。本发明的互联结构模型化方法包括下述步骤:首先对芯片中的金属线进行分类,同一类的金属线统称为一个layer,两条金属线之间只有通过开关盒中的可编程配置点PIP才能建立连接,同类金属线之间的PIP称为intra-PIP,而不同类金属线之间的PIP称为inter-PIP;然后以所有的layer为点,PIP的连接关系为边,建立图形。本发明能够自动生成测试配置,测试效率高。本发明对互联资源测试覆盖率高,尤其对PIP的覆盖。本发明不针对具体某一种型号的FPGA,能够用于SRAM型的FPGA测试,通用性好,方便移植。本发明能够做到更精确的故障定位和诊断。
申请公布号 CN103412253B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201310336510.1 申请日期 2013.08.05
申请人 电子科技大学 发明人 阮爱武;万理;杨钧皓;介百瑞
分类号 G01R31/3185(2006.01)I 主分类号 G01R31/3185(2006.01)I
代理机构 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 代理人 刘勋
主权项 互联资源配置向量自动生成方法,其特征在于,包括下述步骤:1)根据具体FPGA芯片的开关盒结构,建立该FPGA的互联资源模型:首先对芯片中的金属线进行分类,同一类的金属线统称为一个layer,两条金属线之间只有通过开关盒中的可编程配置点PIP才能建立连接,同类金属线之间的PIP称为intra‑PIP,而不同类金属线之间的PIP称为inter‑PIP;每一个layer为点,所有的layer构成了点集V,PIP的连接关系为边,建立IR模型;2)将上述的IR模型转换为邻接矩阵A,矩阵A中的每一个元素都对应了IR模型中环或有向边;3)根据矩阵A寻找一组最优的可布通路径,每一条可布通路径都对应了一组相同类型的测试配置;4)将步骤3)中的得到的每一条路径转化为有向图Gp,路径中的每一个layer的每根线表示为Gp中的点,路径中包含的每一个PIP表示为Gp中的边;5)从有向图Gp中得到节点不相交路径,采用基于局部最优解的边着色算法对Gp进行边着色,获得最优或者近似最优的解;同一颜色的边组成一组NDP,一组NDP即对应了一次测试配置,NDP的数目等于测试配置次数;6)重复步骤4)和步骤5),直到计算出所有路径对应的NDP,得到该FPGA芯片的测试配置集合。
地址 610041 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
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