发明名称 |
一种系统测试方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种系统测试方法,用于提高测试效率。所述方法包括:通过运行测试软件调用后门接口,其中该测试软件的层次和结构与被测系统的层次和结构一一对应;通过后门接口调用后门处理程序;其中一个后门接口对应一个层次中的一个结构;通过执行后门处理程序对系统中该后门接口对应的层次和结构的测试对象进行测试。本发明还公开了用于实现所述方法的装置。 |
申请公布号 |
CN101872324B |
申请公布日期 |
2016.01.20 |
申请号 |
CN201010217707.X |
申请日期 |
2010.06.23 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
张亦农;王欣 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种系统测试方法,其特征在于,包括以下步骤:通过运行测试软件调用后门接口,其中该测试软件的层次和结构与被测系统的层次和结构一一对应;通过后门接口调用后门处理程序,其中一个后门接口对应一个层次中的一个结构;判断是否能够运行后门处理程序,若不能运行,则确定后门处理程序出错;在判断能运行后门处理程序时,通过执行后门处理程序对系统中该后门接口对应的层次和结构中修改或增加的测试对象进行测试。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |