发明名称 | 用于三维形状测量的光学方法及系统 | ||
摘要 | 本发明公开了利用一个或多个彩色编码的条纹图案来光学地、三维地测量对象形状。在一种实施方式中,彩色编码的条纹图案包括多个在强度上被调制的条纹,该彩色编码的条纹图案被如下配置。从条纹中选择的单独条纹包括位于条纹宽度上的彩色线条。该彩色线条的线条宽度大体上比条纹宽度更窄,从而彩色线条在线条宽度上具有大体上类似的强度。不包括彩色线条的单独条纹的条纹颜色大体上在单独条纹上是均匀的。条纹颜色大体上不同于线条颜色。所有条纹的条纹颜色大体上是类似的,由此使得彩色编码的条纹图案的主要部分能够为至对象的投射提供大体上均匀的光照颜色。 | ||
申请公布号 | CN103438833B | 申请公布日期 | 2016.01.20 |
申请号 | CN201310414102.3 | 申请日期 | 2013.09.12 |
申请人 | 香港应用科技研究院有限公司 | 发明人 | 王曌 |
分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 张春媛;阎娬斌 |
主权项 | 一种用于三维测量对象形状的光学方法,包括:将一个预定条纹图案投射到对象上或将不止一个预定条纹图案相继地投射到对象上,从而对象使一个或多个预定条纹图案失真,并且由此生成一个或多个失真的条纹图像;及分析所述一个或多个失真的条纹图像以估计解包裹的相位图,该解包裹的相位图表征所述一个或多个失真的条纹图像的一种或多种强度分布,从而能够从解包裹的相位图获得对象形状的深度分布;其中:所述一个或多个预定条纹图案中的每一个均包括周期性布置在其上的多个条纹,每个条纹具有条纹宽度并且在条纹宽度上强度被调制;及所述一个或多个预定条纹图案中的至少一个位置还被配置成彩色编码的条纹图案;并且,其中彩色编码的条纹图案配置成使得:从条纹中选择的单独条纹包括位于条纹宽度上的彩色线条,该彩色线条的线条宽度大体上比条纹宽度更窄,从而彩色线条在线条宽度上具有大体上类似的强度,彩色线条的强度由彩色线条的位置确定,彩色线条还具有线条颜色。 | ||
地址 | 中国香港新界沙田 |