发明名称 |
用于在电子装置中金属化的铜合金阻挡层和覆盖层 |
摘要 |
在多个实施例中,诸如薄膜晶体管和/或触摸面板显示器的电子装置包括电极和/或互连,所述互连特征为:导体层,以及布置在导体层上方或下方的覆盖层和/或阻挡层,所述覆盖层和/或阻挡层包括Cu与选自由Ta、Nb、Mo、W、Zr、Hf、Re、Os、Ru、Rh、Ti、V、Cr以及Ni组成的组合的一种或多种难熔金属元素的合金。 |
申请公布号 |
CN105264669A |
申请公布日期 |
2016.01.20 |
申请号 |
CN201480031761.1 |
申请日期 |
2014.06.05 |
申请人 |
H·C·施塔克公司 |
发明人 |
孙树伟;D·弗朗索瓦-查尔斯;M·阿布阿夫;P·霍根;张起 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 |
北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 |
代理人 |
王博 |
主权项 |
一种薄膜晶体管,包括:基板,其包括硅或玻璃中的至少一种;以及电极,其包括:(i)布置在所述基板上的阻挡层,所述阻挡层包括Cu与选自由Ta、Nb、Mo、W、Zr、Hf、Re、Os、Ru、Rh、Ti、V、Cr以及Ni组成的列表的一种或多种难熔金属元素的合金,以及(ii)布置在所述阻挡层上的导体层,所述导体层包括Cu、Ag、Al或Au中的至少一种。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |