发明名称 阵列天线的校正装置以及校正方法
摘要 为了进行使阵列天线的各系统与环境的状态变化对应的高精度的校正,校正装置(20A)校正搭载于卫星等上的阵列天线,校正装置(20A)具备:校正系数计算构件21,其计算出对阵列天线(11)所接收到的信号进行规定的信号处理而得到的多个输入信号(Xi(t,P))的相关,来计算出用于校正阵列天线的系统的权重系数(βW);和校正执行构件(27),其基于权重系数(βW)来校正阵列天线的系统。
申请公布号 CN103052888B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201180037862.6 申请日期 2011.07.22
申请人 日本电气株式会社 发明人 小石洋一
分类号 G01R29/10(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I;H01Q3/26(2006.01)I 主分类号 G01R29/10(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 齐秀凤
主权项 一种校正装置,校正配置于宇宙空间的卫星的阵列天线的各系统,所述卫星具有实施波束形成的数字波束形成部,该校正装置的特征在于,具备:校正系数计算构件,其与由所述阵列天线执行的通信并行地,针对通过所述阵列天线接收到的接收信号,将按每个系统进行了规定的信号处理并即将输入到所述数字波束形成部前的多个输入信号进行接受,计算出该多个输入信号的相关,并计算出用于校正所述阵列天线的各个系统的各系统用的权重系数;和校正执行构件,其将所述权重系数输出到所述数字波束形成部,按照在波束形成中反映基于所述权重系数的各系统的校正结果的方式来校正所述阵列天线的各系统。
地址 日本东京都