发明名称 金和铁掺杂的负温度系数单晶硅热敏电阻
摘要 本发明涉及一种金和铁掺杂的负温度系数单晶硅热敏电阻,该热敏电阻以金和铁的金属盐作为扩散源,采用开管涂源式高温气相扩散的方法,将金和铁两种杂质扩散进N型单晶硅中,利用金和铁在硅中形成补偿能级的特性制备出单晶硅热敏材料,再通过化学镀镍电极、划片、封装制备成高B值单晶硅负温度系数热敏电阻。将得到的热敏电阻进行电学性能测试,其电学参数R<sub>25</sub><sub>℃</sub>=84KΩ-129KΩ,B<sub>25</sub><sub>℃</sub><sub>/50</sub><sub>℃</sub>=6240K-6680K。
申请公布号 CN103208341B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201310125877.9 申请日期 2013.04.12
申请人 中国科学院新疆理化技术研究所 发明人 范艳伟;周步康;陈朝阳;王军华
分类号 H01C7/04(2006.01)I 主分类号 H01C7/04(2006.01)I
代理机构 乌鲁木齐中科新兴专利事务所 65106 代理人 张莉
主权项 一种金和铁掺杂的负温度系数单晶硅热敏电阻的制备方法,其特征在于该热敏电阻是以氯金酸与氯化铁作为扩散源,采用开管涂源式高温气相扩散的方法,将金和铁两种杂质扩散进n型单晶硅中,制备出单晶硅热敏材料,再通过化学镀镍电极、划片和封装,得到高B值单晶硅负温度系数热敏电阻,其电学参数为R<sub>25</sub><sub>℃</sub>=84KΩ‑129KΩ,B<sub>25</sub><sub>℃</sub><sub>/50</sub><sub>℃</sub>= 6240K‑6680K,具体操作按下列步骤进行:    a、采用初始电阻率为1Ω·cm,厚度为320μm的N型单晶硅片,首先将硅片置于去离子水中超声清洗3min,然后在丙酮中超声清洗5min,之后在甲醇溶液中超声清洗5min,去离子水清洗,然后将硅片放置于NH<sub>3</sub>·H<sub>2</sub>O:H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>:H<sub>2</sub>O=1:2:5溶液中清洗15min,清洗温度为75±2℃,冷、热去离子水清洗3‑5次,再用0.5%的HF和10%的H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中浸泡2min,最后在2.0%的HF溶液中浸泡2min,去离子水清洗3‑5次,备用,其中采用的单晶硅为N型直拉单晶片,晶面为(111)面,电阻率径向分布≤±5%;    b、将氯金酸的乙醇溶液浓度为3.88×10<sup>‑5</sup>mol/ml与氯化铁乙醇溶液浓度为4.62×10<sup>‑6</sup>mol/ml‑6.94×10<sup>‑4</sup>mol/ml按照体积比1:1混合后作为扩散源溶液,采用两面滴源法,滴在经步骤a处理后的单晶硅片正反面上,红外灯下烘干至表面呈均匀结晶状物质,得到表面涂源的样品,其中在单晶硅片正反面上滴源溶液,每面滴0.05 ml;    c、将表面涂源的样品放入高温扩散炉中进行扩散,扩散温度为1200℃,扩散时间为2h;    d、扩散程序结束后,快速冷却硅样品,用20目的碳化硼磨去表面氧化层25μm/面,置于去离子水中超声清洗3min,然后在丙酮中超声清洗5min,之后在甲醇溶液中超声清洗5min,去离子水清洗,然后将硅片放置于NH<sub>3</sub>·H<sub>2</sub>O:H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>:H<sub>2</sub>O=1:2:5溶液中清洗15min,冷、热去离子水清洗3‑5次,再用0.5%的HF和10%的H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中浸泡2min,最后在2.0%的HF溶液中浸泡2min,去离子水清洗3‑5次;    e、将清洗好的单晶硅样品采用常规化学方法镀Ni电极,再用划片机将样品划成尺寸为1mm×1mm的小芯片,最后小芯片两面焊接引线,并用环氧树脂封装,即可得到珠状金和铁掺杂的负温度系数单晶硅热敏电阻。
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