| 发明名称 |
用于测试头之接触探针及对应之制造方法 |
| 摘要 |
了一种用于测试电子元件的装置的测试头之接触探针，包括延伸于一接触尖端部与一接触头之间的一本体，该接触探针包括由至少两种不同材料制成且对应于一焊接线而接合在一起的至少一个第一区段与一个第二区段。
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| 申请公布号 |
TW201602589 |
申请公布日期 |
2016.01.16 |
| 申请号 |
TW104121163 |
申请日期 |
2015.06.30 |
| 申请人 |
技术探测股份有限公司 |
发明人 |
克力帕罗伯托;法劳利拉法尔;伯塔瑞利艾玛纽尔 |
| 分类号 |
G01R1/067(2006.01);G01R3/00(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财;李世章 |
| 主权项 |
一种用于测试电子元件之一装置的一测试头之接触探针(1)，该接触探针包括延伸于一接触尖端部与一接触头(11A、11B)之间的一本体，该接触探针(11)包括由至少两种不同材料制成且对应一焊接线(22)而接合在一起的至少一个第一区段(20)及一第二区段(21)。
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| 地址 |
义大利 |
