发明名称 |
封装结构及其制法 |
摘要 |
封装结构之制法,系先提供一具有复数焊垫之承载件,再压合一介电层于该承载件上,之后形成复数导电柱于该介电层中,最后移除该介电层之部分材质以形成一开口,使该些焊垫外露于该开口,且该些导电柱系位于该开口周围,藉以达到简化制程之目的。本发明复提供该封装结构。
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申请公布号 |
TW201603215 |
申请公布日期 |
2016.01.16 |
申请号 |
TW103123899 |
申请日期 |
2014.07.11 |
申请人 |
矽品精密工业股份有限公司 |
发明人 |
白裕呈;林俊贤;邱士超;萧惟中;孙铭成;沈子杰;陈嘉成 |
分类号 |
H01L23/48(2006.01);H01L21/60(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/48(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈昭诚 |
主权项 |
一种封装结构,系包括:承载件,系具有复数焊垫;介电层,系具有相对之第一表面与第二表面,该介电层系以其第一表面设于该承载件上,以令该介电层覆盖该些焊垫,且该介电层之第二表面上具有至少一开口,使该些焊垫外露于该开口;以及复数导电柱,系形成于该介电层中,且该些导电柱系位于该开口周围。
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地址 |
台中市潭子区大丰路3段123号 |