摘要 |
明公开了一种可提高半导体装置之可靠性的技术。在半导体装置SM1的封装PA内包装了形成有功率金氧半场效电晶体之半导体晶片4PH,4PL、和形成有控制其动作的控制电路之半导体晶片4D,半导体晶片4PH,4PL,4D各自被搭载在印模焊垫7D1,7D2,7D3之上。高侧的半导体晶片4PH的源极电极用的接合焊垫12S1,12S2,经由金属板8A与印模焊垫7D2电性连接。在印模焊垫7D2的上表面设有形成于搭载了半导体晶片4PL的区域的电镀层9b、以及形成于接合有金属板8A的区域的电镀层9c,电镀层9b和电镀层9c经由未形成有电镀层的区域被隔开。
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