发明名称 METHOD AND DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS
摘要 <p>Verfahren zur Auswertung von Signalen an einer Röntgenanalysevornchtung, die zur Analyse einer Probe von kristallinen Substanzen geeignet ist, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte: Bestrahlen der Probe mit Röntgenstrahlung, Aufzeichnen der gestreuten Röntgenstrahlung mit einem Detektor, Wiederholen der Aufzeichnung bei einem veränderten Stressparameter für die Probe, Subtrahieren von mindestens einem Paar von Aufzeichnungen bei verschiedenen Stressparametern, Analysieren von mindestens einem Differenzbild dahingehend, ob ein oder mehrere Reflexe innerhalb der aufgezeichneten Debye-Scherrer Ringe eine größere Intensitätsveränderung als die umliegenden Reflexe der Debye-Scherrer Ringe besitzen, Quantitative Analyse, in welchem Maß in der Probe enthaltene Kristalle gedreht werden.</p>
申请公布号 WO2016005516(A1) 申请公布日期 2016.01.14
申请号 WO2015EP65739 申请日期 2015.07.09
申请人 UNIVERSITÄT HAMBURG 发明人 SLOBODSKKY, ANATOLIY;SLOBODSKKY, TARAS;HANSEN, WOLFGANG
分类号 G01N23/205 主分类号 G01N23/205
代理机构 代理人
主权项
地址