NON-VOLATILE MEMORY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
摘要
<p>본 발명은 비휘발성 메모리 장치 및 그를 테스트하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 비휘발성 메모리 장치는, 다수의 워드 라인 및 다수의 비트 라인을 갖는 메모리 셀 어레이; 및 상기 다수의 워드 라인 중 홀수 번째 워드 라인에 대한 테스트와 짝수 번째 워드 라인에 대한 테스트를 교대로 수행하는 제어부;를 포함할 수 있다.</p>
