一种低温分子束产生和速度的测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种低温分子束产生和速度的测量装置及方法，其装置包括：4K低温分子束源产生器、静电四极直导引、高压直流电源、高压开关、DIO64数据采集卡时序控制装置、LabVIEW控制模块及四极质谱仪信号测量器。其方法是通过4K温度氦（He）原子与样品分子进行碰撞得到冷分子束，经过与4K He原子充分的碰撞后得到低平动和内态温度的分子束源。四极质谱仪探测到所有化学性质稳定的分子，配合高压开关和静电四极直导引，得到所有可导引的极性分子的速度分布信息。本发明适用于测量缺乏分子光谱数据信息的分子束速度分布。

主权项

一种低温分子束产生和速度的测量装置，其特征在于，该装置包括：4K低温分子束源产生器(A)、静电四极直导引(5)、高压直流电源(6)、高压开关(7)、DIO64数据采集卡时序控制装置(8)、LabVIEW控制模块(9)及四极质谱仪信号测量器(B)，所述静电四极直导引(5)分别连接4K低温分子束源产生器(A)、高压直流电源(6)及高压开关(7)，DIO64数据采集卡时序控制装置(8)分别连接高压开关(7)、LabVIEW控制模块(9)及四极质谱仪信号测量器(B)，LabVIEW控制模块(9)连接四极质谱仪信号测量器(B)；其中：所述低温分子束产生器(A)包括低温制冷机(1)、铜腔(2)、恒温配气管道(3)及活性炭吸附装置(4)，低温制冷机(1)分别连接铜腔(2)及活性炭吸附装置(4)，铜腔(2)分别连接恒温配气管道(3)及静电四极直导引(5)；所述四极质谱仪信号测量器(B)包括四极质谱仪主控制机箱(10)、离子源电离区(11)、射频离子筛选场(12)、信号偏转放大器(13)、二次电子倍增器(14)及MCS‑32数据采集卡(15)，四极质谱仪主控制机箱(10)、离子源电离区(11)、射频离子筛选场(12)、信号偏转放大器(13)、二次电子倍增器(14)及MCS‑32数据采集卡(15)依次连接，MCS‑32数据采集卡(15)分别连接DIO64数据采集卡时序控制装置(8)及LabVIEW控制模块(9)。