发明名称 |
电信号测量 |
摘要 |
本发明涉及电气测量设备(10)。电气测量设备(10)包括测量装置(20,24),测量装置(20,24)被构造为关于电路(12,14,16,18)布置,电路(12,14,16,18)产生电信号,测量装置(20,24)在如此布置时操作用于测量电信号。电气测量设备(10)还包括信号源(22),信号源(22)操作用于将参考输入信号施加于测量装置(20,24),由此来自测量装置的输出信号包括与电信号对应的电输出信号和与参考输入信号对应的参考输出信号,参考输入信号具有在多个周期中的每个周期上重复的基本上分段恒定的形式。电气测量设备(10)还包括处理设备(26),处理设备(26)操作用于:确定至少一个累积表示,累积表示的确定包括对输出信号的多个接收的部分求和,所述多个接收的部分中的每个部分对应于参考输入信号的周期的至少一部分并且是相同部分;以及根据所述至少一个累积表示和参考输入信号,确定用于测量装置的传递函数、用于测量装置的传递函数的变化和电信号中的至少一个。 |
申请公布号 |
CN105247376A |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN201480030949.4 |
申请日期 |
2014.05.30 |
申请人 |
亚德诺半导体集团 |
发明人 |
S·A·A·达内斯;W·M·J·霍兰德;J·斯图尔特;J·E·D·赫维茨 |
分类号 |
G01R21/133(2006.01)I;G01R1/20(2006.01)I;G01R11/25(2006.01)I;G01R11/66(2006.01)I;G01R15/14(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01R19/25(2006.01)I |
主分类号 |
G01R21/133(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
吴信刚 |
主权项 |
一种电气测量设备,包括:测量装置,被构造为关于电路来布置,该电路产生电信号,该测量装置在如此布置时操作用于测量所述电信号;信号源,操作用于将参考输入信号施加于测量装置,由此来自测量装置的输出信号包括与所述电信号对应的电输出信号、和与所述参考输入信号对应的参考输出信号,参考输入信号具有在多个周期中的每个周期上重复的基本上分段恒定的形式;和处理设备,操作用于:确定至少一个累积表示,所述累积表示的确定包括对所述输出信号的多个接收的部分求和,所述多个接收的部分中的每个部分对应于参考输入信号的周期的至少一部分并且是相同部分;以及根据所述至少一个累积表示和参考输入信号确定用于测量装置的传递函数、用于测量装置的传递函数的变化和电信号中的至少一个。 |
地址 |
百慕大群岛(英)哈密尔顿 |