发明名称 具有低导通电阻的栅压自举开关及其衬偏效应消除方法
摘要 本发明涉及集成电路领域,公开了一种具有低导通电阻的栅压自举开关及其衬偏效应消除方法。本发明中,起开关作用的M1的衬底并不直接与其源端短接,而是通过一个控制开关与其源端相连。该控制开关在栅压自举电路处于预充电模式时,处于关断状态;在栅压自举电路处于自举模式时,处于打开状态。因此,当栅压自举电路处于预充电模式时,M1的衬底相当于接地,保证了M1的彻底关断;而当栅压自举电路处于自举模式时,M1的衬底将通过该控制开关与其漏端连通,消除衬偏效应,使得无论输入信号为多少,开关M1的导通电阻都保持不变。
申请公布号 CN102891672B 申请公布日期 2016.01.13
申请号 CN201210362892.0 申请日期 2012.09.25
申请人 泰凌微电子(上海)有限公司 发明人 谢循;方飞
分类号 H03K17/687(2006.01)I 主分类号 H03K17/687(2006.01)I
代理机构 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人 卢刚
主权项 一种具有低导通电阻的栅压自举开关,其特征在于,包含:作为开关的金属氧化物半导体第一MOS晶体管和第二MOS晶体管、与该第一MOS晶体管相连的栅压自举电路;其中,所述第一MOS晶体管的源极接输入信号,第一MOS晶体管的漏极接所述第二MOS晶体管的源极;第二MOS晶体管的栅极接所述第一MOS晶体管的栅极;所述第二MOS晶体管的漏极作为输出信号输出;所述第一MOS晶体管的衬底与该第一MOS晶体管的源极短接;第二MOS晶体管的衬底与该第二MOS晶体管的漏极短接;所述第一MOS晶体管的源极与所述栅压自举电路中一晶体管(M10)的漏极相连。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区达尔文路88号21号楼3楼
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