发明名称 |
提取有机发光器件的相关曲线的系统和方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于补偿像素的阵列的输入信号的系统,所述像素包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,所述系统用于:针对所述半导体器件的不同应力条件,创建补偿曲线库;基于所述半导体器件中的至少被选定的半导体器件的至少一个参数的变化速率或绝对值,识别至少所述被选定的半导体器件的应力条件;基于所识别的应力条件,选择所述被选定的半导体器件的补偿曲线;基于所选择的补偿曲线,计算所述被选定的半导体器件的补偿参数;以及基于所计算的补偿参数,补偿所述被选定的半导体器件的输入信号。 |
申请公布号 |
CN105243992A |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN201510378716.X |
申请日期 |
2015.07.01 |
申请人 |
伊格尼斯创新公司 |
发明人 |
戈尔拉玛瑞扎·恰吉;里基·依克·黑·奈根;尼诺·扎西洛维奇 |
分类号 |
G09G3/3233(2016.01)I |
主分类号 |
G09G3/3233(2016.01)I |
代理机构 |
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 |
代理人 |
曹正建;陈桂香 |
主权项 |
一种用于补偿像素的阵列的输入信号的方法,所述像素包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,所述方法包括:针对所述半导体器件的不同应力条件,创建补偿曲线库;基于所述半导体器件中的至少被选定的半导体器件的至少一个参数的变化速率或绝对值,识别至少所述被选定的半导体器件的应力条件;基于所识别的应力条件,选择所述被选定的半导体器件的补偿曲线;基于所选择的补偿曲线,计算所述被选定的半导体器件的补偿参数;以及基于所计算的补偿参数,补偿所述被选定的半导体器件的输入信号。 |
地址 |
加拿大安大略 |