发明名称 |
供各向同性铜蚀刻的蚀刻调配物 |
摘要 |
一种供各向同性蚀刻铜的调配物包括包含以下各物的水溶液:(a)二齿、三齿或四齿络合剂,其选自由二胺、三胺和四胺组成的群组;和(b)氧化剂,其中所述溶液的pH值介于约5与12之间。在一个实施例中,所述蚀刻溶液包含乙二胺(EDA)和过氧化氢,pH值介于约6与10之间。所提供的溶液能在不导致铜层表面实质粗糙化的情况下高速(例如,至少约1,000埃/分钟)蚀刻铜。所述调配物尤其适用于从部分制成的半导体装置去除铜,例如蚀刻铜覆盖层。 |
申请公布号 |
CN101988198B |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN200910164003.8 |
申请日期 |
2009.08.03 |
申请人 |
诺发系统有限公司 |
发明人 |
史蒂文·T·迈尔;埃里克·韦布 |
分类号 |
C23F1/14(2006.01)I;C23F1/34(2006.01)I |
主分类号 |
C23F1/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
王允方 |
主权项 |
一种湿法蚀刻调配物,其包含水溶液,所述蚀刻调配物包含:(a)二齿、三齿或四齿络合剂,其选自由二胺、三胺和四胺组成的群组;和(b)氧化剂,其中所述蚀刻调配物的pH值介于7与10.5之间,并且其中所述蚀刻调配物能够各向同性蚀刻铜,以致所蚀刻铜表面的反射率每1,000埃所蚀刻铜降低不超过15%,其中所述湿法蚀刻调配物实质上不含单齿配体和具有超过4个齿的配位体。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |