发明名称 |
一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法,该自对准石墨烯场效应晶体管包括半导体衬底、绝缘层、导电通道、源电极、漏电极、栅介质层、栅金属和自对准金属,其中,绝缘层形成于半导体衬底上,导电沟道形成于绝缘体上,导电沟道由石墨烯构成,源电极和漏电极分别形成于导电通道的两侧,栅介质层选择性沉积在源电极和漏电极之间的导电沟道上,栅金属形成于栅介质层之上,栅介质层与栅金属同时图形化堆砌在一起形成栅堆积层,对沟道区载流子浓度进行调控;自对准金属层覆盖源电极、漏电极、导电通道以及栅金属之上,减小未被栅条覆盖区域面积,实现器件栅与源漏的自对准。 |
申请公布号 |
CN103311276B |
申请公布日期 |
2016.01.13 |
申请号 |
CN201310226455.0 |
申请日期 |
2013.06.07 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
金智;彭松昂;麻芃;张大勇;史敬元;陈娇 |
分类号 |
H01L29/16(2006.01)I;H01L29/772(2006.01)I;H01L21/32(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/16(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
任岩 |
主权项 |
一种制备自对准石墨烯场效应晶体管的方法,其特征在于,该方法包括:步骤S11:在半导体衬底上依次形成绝缘层和石墨烯导电沟道层,并在石墨烯导电沟道层上形成源电极和漏电极;步骤S12:在源电极和漏电极之间的石墨烯导电沟道层上旋涂光刻胶,对该光刻胶进行曝光和显影,形成栅图形区;步骤S13:在栅图形区选择性沉积活泼金属随后进行氧化处理,或者在栅图形区利用原子层沉积技术选择性低温沉积金属氧化物层,形成栅介质层;步骤S14:在栅介质层上电子束蒸发栅金属;步骤S15:剥离去除光刻胶和多余栅金属,并去除沟道区其它部位残胶;步骤S16:在源电极(13)、漏电极(14)、导电沟道层(12)以及栅金属(16)之上电子束蒸发形成自对准金属层,且自对准金属层的厚度小于栅介质层的厚度。 |
地址 |
100083 北京市朝阳区北土城西路3号 |