一种解决供电电压变化导致芯片和MOS损坏的设计方案

摘要

本发明公开了一种解决供电电压变化导致芯片和MOS损坏的设计方案，当芯片的VCC电压达到5V之后，就会驱动电压控制芯片开始工作，电压控制芯片通过发出MOS开关信号来实现上下MOS分别打开和关闭，通过电感的作用来输出稳定电压，其特征在于：在电压控制芯片的VCC管脚处，添加一颗电阻和一颗电容，其中电阻串联于VCC电压输入端和电压控制芯片的VCC管脚之间，电容连接于GND和电压控制芯片的VCC管脚之间。

主权项

一种解决供电电压变化导致芯片和MOS损坏的设计方案，当芯片的VCC电压达到5V之后，就会驱动电压控制芯片开始工作，电压控制芯片通过发出MOS开关信号来实现上下MOS分别打开和关闭，通过电感的作用来输出稳定电压，其特征在于：在电压控制芯片的VCC管脚处，添加一颗电阻和一颗电容，其中电阻串联于VCC电压输入端和电压控制芯片的VCC管脚之间，电容连接于GND和电压控制芯片的VCC管脚之间。