| 摘要 |
【課題】高速スキャンと大きいスキャン範囲とを両立させて、２次元データ、さらには、３次元データの高速での収集を可能とする光干渉断層装置を提供する。【解決手段】被検体Ｔに低干渉光を出力する光源１と、前記低干渉光を２つの方向に分割して参照光Ｌ１と測定光Ｌ２として出力するビームスプリッタ２と、前記被検体に対して前記測定光を平面走査して照射する平面走査手段１０と、前記参照光と前記反射光とが前記ビームスプリッタで結合した光を検出する光検出手段７と、前記光検出手段で検出された光の干渉を解析して前記被検体の光断層画像を生成する信号処理装置８とを備え、前記平面走査手段は、前記測定光の光路上に設けられた少なくとも２つの電気光学結晶４１，５１に電圧を印加することで当該測定光を当該電圧の印加方向と同じ方向に偏向することにより前記測定光をリサジュー図形に平面走査することを特徴とする光干渉断層装置。【選択図】図４ |
