发明名称 叠层组合式MEMS芯片的制造方法及其叠层组合式MEMS芯片
摘要 本发明公开了一种叠层组合式MEMS芯片及其制造方法,首先制造第一MEMS圆片和硅穿孔圆片,将第一MEMS圆片和硅穿孔圆片键合得到密封圆片,在密封圆片上制作绝缘层和金属层形成金属化密封圆片,将第二MEMS圆片键合到金属化密封圆片上得到叠层组合式MEMS圆片,最后切割叠层组合式MEMS圆片得到叠层组合式MEMS芯片。本方法充分利用硅穿孔圆片的面积,在其上下两侧各形成至少一个上密封腔和至少一个下密封腔,密封腔内有MEMS结构,密封腔内的MEMS结构的信号通过金属层引出,在他们的信号线之间有屏蔽金属层用于隔离不同MEMS结构电信号之间的干扰。本方法的叠层组合式MEMS芯片,可以满足组合式运动传感器芯片对不同压力的要求,而且本芯片体积小、集成度高、设计灵活、成本低。
申请公布号 CN103922273B 申请公布日期 2016.01.13
申请号 CN201410178952.2 申请日期 2014.04.30
申请人 安徽北方芯动联科微系统技术有限公司 发明人 华亚平
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B81B7/00(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 34102 代理人 王琪;牛涛
主权项 叠层组合式MEMS芯片的制造方法,步骤为:(1)第一MEMS圆片形成:在底板圆片上表面生长底板绝缘层,蚀刻出至少一个底板凹腔,底板上表面未被蚀刻的部分成为底板密封区和第一硅柱;将单晶硅圆片键合到底板圆片上表面上,作为第一MEMS层圆片,磨削第一MEMS层圆片到10~100 µm,形成第一MEMS层,蚀刻第一MEMS层,形成第一MEMS密封区、第一MEMS结构和第一MEMS导电区,这样,就完成第一MEMS圆片的制造;(2)硅穿孔圆片形成:在硅穿孔圆片衬底上蚀刻出隔离沟,生长二氧化硅填满隔离沟,形成二氧化硅隔离层,然后蚀刻出至少一个第一凹腔,硅穿孔圆片衬底上未被蚀刻的部分成为导电键合区和密封键合区,最后蚀刻除去隔离沟外的二氧化硅,形成硅穿孔圆片;(3)密封圆片形成:将第一MEMS圆片和硅穿孔圆片在设定气压的键合室中对准键合,形成密封圆片,其中第一凹腔与底板凹腔共同组成下密封腔,第一MEMS结构位于下密封腔内;(4)金属化密封圆片形成:磨削密封圆片上的硅穿孔圆片,露出隔离沟,硅穿孔圆片被隔离沟分割为第一垂直电极、密封区和硅导电柱;在硅穿孔圆片上淀积第一绝缘层覆盖硅穿孔圆片,在第一绝缘层上蚀刻出第一通孔,淀积第一金属层覆盖第一绝缘层,同时填充第一通孔,然后图形化第一金属层,得到第一金属线和压焊块;在第一金属层上淀积第二绝缘层,在第二绝缘层上蚀刻出第二通孔,淀积第二金属层覆盖第二绝缘层以及填充第二通孔,图形化第二金属层,得到屏蔽区和第二金属线,最后将覆盖在压焊块上的第二绝缘层蚀刻掉,露出压焊块,制造完成金属化密封圆片;(5)第二MEMS圆片形成:在盖板圆片上表面生长盖板绝缘层,蚀刻出至少一个盖板凹腔,盖板上表面未被蚀刻的部分成为盖板密封区和第二硅柱;将单晶硅圆片键合到盖板圆片上表面上,作为第二MEMS层圆片,磨削第二MEMS层圆片到10~100 µm,形成第二MEMS层,在第二MEMS层上对应盖板凹腔处蚀刻出第二凹腔,最后蚀刻第二MEMS层,形成第二MEMS密封区、第二MEMS结构和第二MEMS导电区,这样,就完成第二MEMS圆片的制造;(6)叠层组合式MEMS圆片形成:将金属化密封圆片和第二MEMS圆片在设定气压的键合设备内对准键合,形成叠层组合式MEMS圆片,其中第二凹腔与盖板凹腔共同组成上密封腔,第二MEMS结构位于上密封腔内;(7)叠层组合式MEMS芯片形成:首先叠层组合式MEMS圆片中将压焊块上方的第二MEMS圆片切割掉,露出压焊块,然后切割叠层组合式MEMS圆片,得到叠层组合式MEMS芯片。
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