用于借助散射光测量颗粒浓度的测量设备和用于监视测量设备的方法

摘要

提出的用于借助散射光测量废气中粒子浓度的测量设备包括测量室（12）、至少一个光源（10）和至少一个光传感器（15a，15b），其中所述测量室（12）设置在所述光源（10）的光路中，并且其中所述光传感器（15a，15b）检测所述测量室（12）中由所述废气的粒子散射的光。为了检测对于精确的粒子测量决定性的光束（11b）的强度，设置监视装置（22），用于根据散射射束（30）检测所述光束（11b）的强度。借助监视测量，检测所述光束（11b）的强度，其方式是，求取散射射束（30），并且将其与所述散射射束（30）的预先规定的参考值比较。根据所述比较，相应地调节所述光源（10）的强度和/或相应地校正所述粒子测量的测量结果。

主权项

用于借助散射光测量废气中颗粒浓度的测量设备，具有测量室（12）、至少一个光源（10）和至少一个第一光传感器（15a，15b），其中所述测量室（12）布置在所述光源（10）的光路中，其中所述光源（10）产生光束（11a），所述光束在所述测量室（10）中作为光束（11b）延伸，并且其中所述至少一个第一光传感器（15a，15b）检测所述光束（11b）的在所述测量室（12）中由所述废气的颗粒散射的光，其中在所述测量室（12）中设置用于容纳具有第一散射光体（21）的校准装置的定义的校准位置（31），使得当所述第一散射光体（21）被布置在定义的校准位置（31）上并且被所述光束（11b）照射时，所述至少一个第一光传感器（15a，15b）检测从第一散射光体（21）发出的散射辐射，其特征在于，设置监视装置（22），用于根据散射辐射（30）检测所述测量室（12）中的光束（11b）的强度，其中所述监视装置（22）包括：第二散射光体（23），该第二散射光体布置在与所述校准位置（31）不同的定义的监视位置（32）上，至少一个其它光传感器（24），所述至少一个其它光传感器提供与第二散射光体（23）所发出的散射辐射（30）的强度对应的信号，以及分析处理装置（25），该分析处理装置被构造用于分析所述其它光传感器（24）的信号。