发明名称 実質的に同一の複数の部品をX線で自動的に試験および/または測定するためのシステムおよび方法
摘要 実質的に同一の複数の部品(12)をX線で連続して自動的に試験および/または測定するためのシステム(10)は、支持体(17)を有する試験装置(11)と、支持体(17)上で連続的に回転することができるように取り付けられたロータ(18)と、ロータ(18)上に配設されたX線装置(24、25)と、試験装置(11)を取り巻く保護囲い(15)と、X線試験中に部品(12)を扱うための取扱装置(60)と、システム(10)を自動的に制御し、また、コンピュータトモグラフィによってX線信号を評価するように構成された制御/評価ユニット(14)とを備える。取扱装置(60)は、装荷領域(61)と試験領域(78)の間を周期的に往復運動するように構成されており、部品(12)が終端面の側に配設され得る終端面要素(64)を備える。【選択図】図3
申请公布号 JP2016500446(A) 申请公布日期 2016.01.12
申请号 JP20150548477 申请日期 2013.12.18
申请人 ジーイー センシング アンド インスペクション テクノロジーズ ゲ−エムベーハー 发明人 ヴァステンベッカー,マイケル
分类号 G01N23/04;G01N23/14 主分类号 G01N23/04
代理机构 代理人
主权项
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