发明名称 X-RAY SOURCE AND IMAGING SYSTEM
摘要 본 발명은, 적어도 하나의 X-레이-투과성 빔 출구 윈도우(X-ray-permeable beam exit window)(5), 전자 소스(electron source)(7), 양극(anode)(13), 및 양극을 관통하는 전자들을 캐칭(catching)하기 위한 컬렉터(collector)(19)를 가진 진공배기가능 외측 하우징(evacuable outer housing)(3)을 포함하는 X-레이 소스(X-ray source)(1)에 관한 것이다. 컬렉터는 양극에 음전위를 인가하기 위한 전류 회로(electrical current circuit)의 부분이고, 방사 윈도우(radiation window)는, 상기 전자 빔 방향(electron beam direction)에 대해 130도 내지 230도의 각도(a)에서 양극으로부터 나오는 X-레이 방사(9)가 방사 윈도우를 통해 커플링 아웃(coupling out)될 수 있도록 배치된다. 본 발명은 추가로, 본 발명에 따른 X-레이 소스(X-ray source), 검사될 오브젝트(object)를 수용하기 위한 장치(arrangement), 및 X-레이 검출기(X-ray detector)를 가진 이미징 시스템(imaging system)에 관한 것이다.
申请公布号 KR20160004383(A) 申请公布日期 2016.01.12
申请号 KR20157034428 申请日期 2014.03.07
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 GOSSMANN SVETLANA;HEID OLIVER;HUGHES TIMOTHY
分类号 H01J35/16 主分类号 H01J35/16
代理机构 代理人
主权项
地址