发明名称 | 半导体制造装置用附设研磨部之清洗刷之部分 | ||
摘要 | 计物品为一种清洗刷,其系使用于半导体制造装置中,以除去会对基板曝光等造成不良影响之「形成于基板背面的凸部」或是「基板背面的附着物」;本设计物品在外围具有研磨部,在其内侧具有清洗部。本设计物品,如同表示使用状态之参考图1所示,藉由向基板背面强力按压,并在研磨部接触之状态下旋转,以进行基板背面之研磨;又,如同表示使用状态之参考图2所示,藉由在清洗部接触基板背面之状态下旋转,以除去由于研磨造成之研磨屑等。透过本设计物品之使用,能以一个清洗刷进行研磨及清洗,故能短缩清洗步骤所需之时间,并能防止半导体制造装置之制造处理能力降低。图式所揭露之虚线部分,为本案不主张设计之部分;以实线表示之部分,则为欲主张部分设计之部分;图中之链线,系表示「主张部分设计之部分」与「不主张设计之部分」的边界。 | ||
申请公布号 | TWD173082 | 申请公布日期 | 2016.01.11 |
申请号 | TW104303363 | 申请日期 | 2015.06.23 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | |
分类号 | 15-99 | 主分类号 | 15-99 |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |