发明名称 |
用于去耦取样为主描绘管线之低功率质心决定及纹理覆盖区最佳化 |
摘要 |
去耦取样以描绘管线产生高品质影像的问题可以藉由产生非外推着色位置及藉由决定改良纹理过滤覆盖区加以针对。这可以藉由执行在包围映射着色取样的定界框的中心之着色加以完成。
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申请公布号 |
TWI517086 |
申请公布日期 |
2016.01.11 |
申请号 |
TW102110870 |
申请日期 |
2013.03.27 |
申请人 |
英特尔股份有限公司 |
发明人 |
韦戴纳森 卡锡克;沙维 马可;托斯 罗伯特;雷冯 艾隆 |
分类号 |
G06T1/00(2006.01);G06T3/00(2006.01) |
主分类号 |
G06T1/00(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
一种方法,包含:计算定界框,其定界着色取样;及在该定界框中心,执行着色。
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地址 |
美国 |