发明名称 2 A method to trace cathodic second-phase particles at Mg alloy surface and A method to manufacture using the method to trace
摘要 <p>본 발명에 따른 마그네슘 합금 표면의 2상 입자 검출방법은, 마그네슘 합금 샘플을 준비하는 제 1 단계와, 알칼리 수용액이 수용된 용기에 상기 마그네슘 합금 샘플을 일정시간 침지시키는 제 2 단계 및 알칼리 수용액에 침지된 상기 마그네슘 합금 샘플의 표면으로부터 2상 입자의 존재 여부를 확인하는 제 3 단계를 포함하고, 상기 제 3 단계에서 상기 2상 입자의 존재 여부는 상기 마그네슘 합금 샘플의 표면으로부터 기포의 발생 유무로 확인하는 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명은 마그네슘 합금 표면의 2상 입자 검출방법을 이용하여 마그네슘 합금 샘플의 표면에 존재하는 2상 입자를 검출한 후, 브러싱, 에칭 또는 연마 방식을 통해 검출된 상기 2상 입자를 제거하여 마그네슘 합금의 표면을 가공하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101581459(B1) 申请公布日期 2016.01.11
申请号 KR20130161682 申请日期 2013.12.23
申请人 한국기계연구원 发明人 문성모;장도연;김만;이상열
分类号 B24B7/00;C23F15/00;G01N15/10;G01N33/20 主分类号 B24B7/00
代理机构 代理人
主权项
地址