发明名称 半導体装置およびその製造方法
摘要 半導体装置は、基板上にゲート絶縁膜GIを介して形成されたゲート電極GEと、基板上に形成されたソース・ドレイン用の半導体層EP1とを有している。半導体層EP1の上面は、ゲート電極GEの直下における基板の上面よりも高い位置にある。そして、ゲート電極GEにおけるゲート長方向の端部が半導体層EP1の上に位置している。
申请公布号 JPWO2013171892(A1) 申请公布日期 2016.01.07
申请号 JP20140515439 申请日期 2012.05.18
申请人 ルネサスエレクトロニクス株式会社 发明人 山本 芳樹;槇山 秀樹;角村 貴昭;岩松 俊明
分类号 H01L29/786;H01L21/336;H01L29/41;H01L29/423;H01L29/49;H01L29/78 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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