摘要 |
Bei einem Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung mittels einer 3D-Messvorrichtung (100), bei welchem ein Projektor (121) der 3D-Messvorrichtung (100) wenigstens ein Muster (X) auf einem Objekt (O) in der Umgebung der 3D-Messvorrichtung (100) erzeugt, wenigstens eine erste Kamera (111) der 3D-Messvorrichtung (100) Aufnahmen des mit dem Muster (X) versehenen Objekts (O) macht, und die 3D-Koordinaten von ausgewählten Punkten (X0, X1, X2) auf dem Objekt (O) aus den Aufnahmen der ersten Kamera (111) und unter Verwendung von Kalibrierungsparametern ermittelt werden, werden die Kalibrierungsparameter automatisch überprüft. Der Projektor (121) erzeugt das Muster (X) mittels eines diffraktiven optischen Elements (124), und die Wellenlänge des Projektors (121) wird mittels der Aufnahmen überprüft, um Änderungen der Wellenlänge zu ermitteln. |