发明名称 一种温度检测电路
摘要 本发明公开了一种温度检测电路,该电路包括一通用比较器comp、一开关管m<sub>0</sub>、两个参考电流源I<sub>ref1</sub>和I<sub>ref2</sub>、一双极PNP管Q<sub>0</sub>、一参考电压V<sub>ref</sub>和一电源V<sub>DD</sub>和接地端;且输出V<sub>out</sub>为控制信号,该控制信号还连接开关管m<sub>0</sub>的栅极;该电路用于高温检测时,参考电压V<sub>ref</sub>的值通过设置的温度上限值确定;该电路还可用于低温检测,此时参考电压V<sub>ref</sub>用参考电压V<sub>ref</sub>′代替,且参考电压V<sub>ref</sub>′的值通过设置的温度下限值确定;本发明所述电路还可将上述高温检测电路和低温检测电路组合得到对闭合温度区域的检测。本发明的温度检测迟滞窗口的窗口阈值随温度、电源电压、工艺的影响较小,因此形成的迟滞窗口更稳定,电路可靠性高。
申请公布号 CN102207409B 申请公布日期 2016.01.06
申请号 CN201010138971.4 申请日期 2010.03.30
申请人 北斗国科(北京)科技有限公司 发明人 吴玉强;刘俊秀;刘敬波;石岭
分类号 G01K7/01(2006.01)I 主分类号 G01K7/01(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种温度检测电路,其特征在于,该电路用于高温检测,包括一通用比较器comp、一开关管m<sub>0</sub>、两个参考电流源I<sub>ref1</sub>和I<sub>ref2</sub>、一双极PNP管Q<sub>0</sub>、一参考电压V<sub>ref</sub>和一电源V<sub>DD</sub>和接地端;其中,开关管m<sub>0</sub>与参考电流源I<sub>ref2</sub>串联后再与参考电流源I<sub>ref1</sub>并联于电源V<sub>DD</sub>和双极PNP管Q<sub>0</sub>的发射极之间;该双极PNP管Q<sub>0</sub>的基极和集电极相连至接地端,其发射极还与通用比较器comp的负输入端相连,该通用比较器comp的正端接参考电压V<sub>ref</sub>,且输出V<sub>out</sub>为控制信号,且该控制信号还连接开关管m<sub>0</sub>的栅极,参考电压V<sub>ref</sub>的值通过设置的温度上限值确定;该温度检测电路通过调节参考电流源I<sub>ref2</sub>的大小调节输出V<sub>out</sub>输出曲线中迟滞窗口的大小。
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