发明名称 太阳能芯片电性检测装置与方法
摘要 本发明公开了一种太阳能芯片电性检测装置。该装置包括贴附于一太阳能芯片的一总线的一弹性金属片,此弹性金属片具有一开口;以及设置于此弹性金属片的一端的一导电装置,此导电装置经由此开口与此总线接触。将此电性检测装置贴附在位于此太阳能芯片的正面的总线,此弹性金属片与导电装置分别电性连接至与相连于此太阳能芯片的背面的电极的一测试元件,以使此弹性金属片、此测试元件、以及此背面的电极形成一电流测量回路,此导电装置、此测试元件、以及此背面的电极形成一电压测量回路。
申请公布号 CN103163333B 申请公布日期 2016.01.06
申请号 CN201210039572.1 申请日期 2012.02.21
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 黎宇泰;施仁亲;陈震伟;李育贤;吴鸿森;卢冠伍
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种太阳能芯片电性检测装置,其特征在于,该电性检测装置包括:一弹性金属片,贴附于一太阳能芯片的一总线,该弹性金属片备有一开口,其中,该弹性金属片具有一弧度接触面;以及一导电装置,设置于该弹性金属片的一端,该导电装置经由该开口与该总线接触;其中,当弹性金属片被贴附于太阳能芯片的总线时,弧度接触面形成一平坦面,并贴附于总线。
地址 中国台湾新竹县