发明名称 |
利用电子全息技术表征磁性纳米材料微观磁结构的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种利用电子全息技术表征磁性纳米材料微观磁结构的方法,包括以下步骤:制备洛伦兹透射电镜所需的磁性纳米材料的试样;在洛伦兹透射电镜中对试样进行观察,并拍摄第一全息图和第二全息图;分别对第一全息图和第二全息图进行重构;其中,第一全息图重构后得到第一振幅图和第一相位图;第二全息图重构后得到第二振幅图和第二相位图;将第一振幅图和第二振幅图对齐,并记录对齐过程中的操作代码;根据上述的操作代码对齐第一相位图和第二相位图;处理对齐后的第一相位图和第二相位图,得到磁性纳米材料的微观磁结构。其实现了全息图对齐的准确性,能够有效去除磁性纳米材料内部的电场信号,正确表征纳米磁性材料的微观磁结构。 |
申请公布号 |
CN105223048A |
申请公布日期 |
2016.01.06 |
申请号 |
CN201410272790.9 |
申请日期 |
2014.06.18 |
申请人 |
中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
发明人 |
徐显会;夏卫星;谢林华;赵国平;杜娟;张健;闫阿儒;刘平 |
分类号 |
G01N1/28(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
李芙蓉 |
主权项 |
一种利用电子全息技术表征磁性纳米材料微观磁结构的方法,其特征在于,包括以下步骤:S100,制备洛伦兹透射电镜所需的磁性纳米材料的试样;S200,在洛伦兹透射电镜中对所述试样进行观察,并拍摄第一全息图和第二全息图;S300,分别对所述第一全息图和所述第二全息图进行重构;其中,所述第一全息图重构后得到第一振幅图和第一相位图;所述第二全息图重构后得到第二振幅图和第二相位图;S400,将所述第一振幅图和所述第二振幅图对齐,并记录所述对齐过程中的操作代码;S500,根据S400中的操作代码对齐所述第一相位图和所述第二相位图;S600,对所述对齐后的第一相位图和第二相位图进行后续处理,得到所述磁性纳米材料的微观磁结构。 |
地址 |
315201 浙江省宁波市镇海庄市大道519号 |