发明名称 |
一种在GaP表面制备锥状结构的方法 |
摘要 |
本发明提供一种在GaP表面制备锥状结构的方法,在GaP样品表面上旋涂光刻胶,利用微、纳米尺度图形制备技术在光刻胶上制备孔状光刻胶阵列图形,得到含有孔状光刻胶阵列图形的样品;利用金属镀膜设备,在含有孔状光刻胶阵列图形的样品上生长一层金属层并溶脱,得到含有金属柱状图形阵列的样品;利用干法刻蚀设备对含有金属柱状图形阵列的GaP样品进行刻蚀,得到具有锥状阵列结构的GaP样品;将具有锥状阵列结构的GaP样品置于金属腐蚀液中清洗,去除表面残留的金属层,在GaP表面得到锥状阵列结构。该锥状阵列结构可用于AlGaInP基红光LED光提取效率的增强。 |
申请公布号 |
CN103199161B |
申请公布日期 |
2016.01.06 |
申请号 |
CN201310093588.5 |
申请日期 |
2013.03.22 |
申请人 |
中国科学院物理研究所 |
发明人 |
杨海方;刘哲;顾长志;尹红星;夏晓翔 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I;H01L33/22(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
梁爱荣 |
主权项 |
一种在GaP表面制备锥状结构的方法,其特征在于,所述GaP表面制备锥状结构的制备步骤如下:步骤S1:在样品表面上涂覆光刻胶,利用微、纳图形制备技术在光刻胶上制备孔状光刻胶阵列图形,得到具有光刻胶图形的样品;步骤S2:将具有光刻胶图形的样品放入金属镀膜设备中,生长金属层做为刻蚀掩膜,得到具有金属层的样品;步骤S3:将具有金属层的样品,放入去胶溶液中进行溶脱处理,得到含有金属柱状阵列的样品;步骤S4:利用干法刻蚀设备对含有金属柱状阵列的样品进行刻蚀,控制刻蚀参数,在GaP表面得到具有锥状结构的样品;步骤S5:将具有锥状结构的样品放入金属腐蚀液中去除残留的金属层,从而在GaP表面得到锥状结构。 |
地址 |
100190 北京市海淀区中关村南三街8号 |