发明名称 | 用于物质分辨的标定装置、标定方法和标定系统 | ||
摘要 | 本发明涉及用于物质分辨的标定装置、标定方法和标定系统。根据本发明的用于物质分辨的标定件能够对透射的射线进行衰减,并且包括多个标定块,每个标定块包含从多种材料中选出的至少一种材料。每个标定块在厚度方向上保持材料的种类和比例是均匀的。每个标定块包括用于接收射线的第一表面和用于使射入的射线离开的第二表面。该多个标定块中的至少一部分标定块中的每一个包括从该多种材料中选出的两种或两种以上的材料,使得每个标定块具有各自的等效原子序数。这种标定件的体积较小,因此携带方便。此外,本发明还提供根据该标定件的标定方法和标定系统,这种标定方法和标定系统简单易行,能够降低调试人员的调试难度,从而减轻相应的劳动强度。 | ||
申请公布号 | CN105223214A | 申请公布日期 | 2016.01.06 |
申请号 | CN201510696409.6 | 申请日期 | 2015.10.22 |
申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 刘晶晶;王强;廖育华;张阳天;彭华;李元景 |
分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 白少俊 |
主权项 | 一种用于物质分辨的标定件,所述标定件能够对透射的射线进行衰减,所述标定件包括:多个标定块,每个标定块包含从多种材料中选出的至少一种材料,其中,每个标定块在厚度方向上保持材料的种类和比例是均匀的,其中,所述每个标定块包括用于接收射线的第一表面和用于使射入的射线离开的第二表面,标定块的厚度为从所述第一表面到所述第二表面的距离,其中,所述多个标定块中的至少一部分标定块中的每一个包括从所述多种材料中选出的两种或两种以上的材料,使得每个标定块具有各自的等效原子序数。 | ||
地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |