发光元件测试治具

摘要

本发明涉及一种发光元件测试治具，其包括基座、测试组件以及限位组件。该发光元件测试治具通过限位组件实现待测发光元件与测试探针的接触，在测试时能保证较好地接触，测试完成后又能快捷地将待测发光元件从测试治具上取下，不损伤待测发光元件，待测发光元件可重复使用，不影响其他实验，从而可以使得测试过程高效、简便。该发光元件测试治具还可根据待测发光元件的焊盘形式不同，灵活调节对应的测试组件，并且还可根据测试效率优先或测试准确率优先不同情况，自由改装不同的限位组件，可以满足不同的测试需要。

主权项

一种发光元件测试治具，其特征在于，包括：基座，设有安装槽；测试组件，包括测试基板、测试探针以及PCB测试板，所述测试基板上开设有用于放置待测发光元件的测试槽，所述测试探针穿设于所述测试基板且一端能够伸入所述测试槽中与所述待测发光元件的焊盘接触，另一端与所述PCB测试板电连接，所述测试基板设在所述安装槽内；以及限位组件，活动设在所述基座或所述测试基板上，当所述限位组件处于测试工位时，所述限位组件与所述待测发光元件相抵接并将所述待测发光元件限位在所述测试槽内，所述待测发光元件的焊盘与所述测试探针相接触。