一种用于探测光强度的多层膜及其制备方法

摘要

本发明公开了一种用于探测光强度的多层膜，其特征在于：在ITO玻璃基底层上设有有机薄膜层Ⅰ，所述有机薄膜层Ⅰ上设有有机薄膜层Ⅱ，在所述有机薄膜层Ⅱ上设有金属薄膜电极。本发明还公开了该多层膜的制备方法。本发明以ITO透明电极代替传统的金属薄膜电极，有效地提高了入射光的透射率，以有机薄膜层为核心层，采用真空蒸镀的方法来制备多层膜，制备工艺简洁，得到的多层膜在光强度探测上有广泛的应用。

主权项

一种用于探测光强度的多层膜，其特征在于：在ITO玻璃基底层(1)上设有有机薄膜层Ⅰ(2)，所述有机薄膜层Ⅰ(2)是由并五苯和酞菁铜的混合材料制成的，并五苯和酞菁铜的摩尔比为1:9‑1:4，薄膜的厚度为35nm‑65nm；所述有机薄膜层Ⅰ(2)上设有有机薄膜层Ⅱ(3)，所述有机薄膜层Ⅱ(3)为N型有机薄膜，所述N型有机薄膜为富勒烯，厚度为25nm‑40nm；在所述有机薄膜层Ⅱ(3)上设有金属薄膜电极(4)，所述金属薄膜电极(4)的材料为金、铂或银。