发明名称 一种多栅极场效应晶体管的制作方法
摘要 本发明提供一种多栅极场效应晶体管的制作方法,首先提供一半导体基底,该半导体基底包括底部含Si半导体层、绝缘层以及顶部含Si半导体层;在所述半导体基底上沉积硬掩膜;通过一些步骤形成图案化的硬掩膜,并形成鳍片;在所述绝缘层、鳍片和所述硬掩膜上沉积另一绝缘层;去除多余的绝缘层,并保留一部分鳍片底部的绝缘层;最后去除硬掩膜。本发明还提供一种多栅极场效应晶体管结构,包括底部含Si半导体层、位于所述底部含Si半导体层上的绝缘层以及部分嵌入所述绝缘层的半导体鳍片,其中部分嵌入绝缘层的半导体鳍片高度为半导体鳍片总高度的1/10~1/3。
申请公布号 CN103021851B 申请公布日期 2016.01.06
申请号 CN201110280744.X 申请日期 2011.09.21
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 洪中山
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 董巍;顾珊
主权项 一种多栅极场效应晶体管的制作方法,包括:提供半导体基底,所述半导体基底包括底部含Si半导体层、绝缘层以及顶部含Si半导体层;在所述半导体基底上形成硬掩膜;图案化所述硬掩膜;形成鳍片,所述鳍片高度相同;在所述绝缘层、所述鳍片和所述硬掩膜上沉积另一绝缘层,所述另一绝缘层在所述绝缘层和所述硬掩膜上的部分较厚,在所述鳍片两侧的部分较薄;去除多余的所述另一绝缘层,使所述硬掩膜和所述鳍片的一部分暴露出来,所述鳍片暴露部分的高度相同。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号