发明名称 EEPROM的制备方法
摘要 本发明提出了一种EEPROM的制备方法,在形成存储比特结构和常开比特结构之后,对其中需要置于常开比特结构进行离子注入,离子注入于常开比特结构下方衬底的表面,可以降低阈值电压,提高电流,在EEPROM工作时有利于数据的存储和维持,提高器件的性能。
申请公布号 CN105226028A 申请公布日期 2016.01.06
申请号 CN201510695208.4 申请日期 2015.10.22
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 高超;江红;李冰寒
分类号 H01L21/8247(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I 主分类号 H01L21/8247(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅
主权项 一种EEPROM的制备方法,其特征在于,包括步骤:提供衬底,在所述衬底上形成有字线、存储比特结构、常开比特结构、介质层、栅介质层及源漏极,所述源漏极形成在所述衬底内,所述栅介质层形成在所述衬底上,所述字线、存储比特结构、常开比特结构及介质层均形成在所述栅介质层上,所述存储比特结构和常开比特结构位于所述字线的两侧,并由所述介质层隔离开;对所述常开比特结构进行离子注入处理,离子注入于常开比特结构下方衬底的表面,降低阈值电压。
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