光电望远镜光学系统透过率的外场测量方法

摘要

光电望远镜光学系统透过率的外场测量装置及测量方法，属于光电仪器领域，解决了现有单光束检测方法无法在外场条件下对光电望远镜光学系统的透过率有效测量的问题，该装置包括支撑架；安装在支撑架上的手动调整平台；固定在手动调整平台上的He-Ne激光器；主要由探头和输出显示装置组成的激光功率计，探头放置在He-Ne激光器的输出窗口前端，并与He-Ne激光器的激光输出光轴垂直。本发明通过激光功率计探头将He-Ne激光器激光束完全覆盖，并通过探头测量不同位置及不同输出波长下的光学系统的透过率值再取均方值从而测得透过率，实现在外场条件下对光电望远镜光学系统透过率的有效测量，方法简捷、方便，并且成本较低。

主权项

光电望远镜光学系统透过率的外场测量方法，其特征在于，该方法的条件和步骤如下：步骤一、调整支撑架(1)使He‑Ne激光器(3)的激光束进入光电望远镜(6)的光学系统视场内，微调手动调整平台(2)使He‑Ne激光器(3)的激光束与光学系统的光轴平行；步骤二、将探头(41)放置在He‑Ne激光器(3)的输出窗口(31)前端，并与He‑Ne激光器(3)的激光输出光轴保持垂直，探头(41)将He‑Ne激光器(3)的激光束完全覆盖，记录此时输出显示装置(42)的数值；步骤三、将探头(41)放置在光电望远镜(6)的像面位置，并与光学系统的光轴保持垂直，探头(41)将经过光学系统的光学镜组(64)出射的激光束完全覆盖，记录此时输出显示装置(42)的数值；步骤四、将步骤二中的数值除以步骤三中的数值，得到的比值即为光学系统的透过率值；步骤五、改变He‑Ne激光器(3)的输出波长，重复步骤二、步骤三和步骤四，求出不同输出波长下光学系统的透过率值，将得到的多个透过率值取均方根求得光学系统的最终透过率。