一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法

摘要

本发明提供了一种测量不完整孔的光面塞规及其设计方法，所述的光面塞规，包括塞规本体；所述的塞规本体是由一端定位部、中间测量部和另一端手持部组成的台阶式圆柱形结构；所述的测量部包括通端和止端，通端和止端分别为小半圆柱面结构与大半圆柱面结构，且通端和止端同心设置，通端的半径大于定位部的半径。该塞规的尺寸计算简单、易懂，结构简单，制造容易，使用方便。

主权项

一种测量不完整孔的光面塞规，其特征在于，包括塞规本体(3)；所述的塞规本体(3)是由一端定位部(4)、中间测量部(5)和另一端手持部(6)组成的台阶式圆柱形结构；所述的测量部(5)包括通端(7)和止端(8)，通端(7)和止端(8)分别为小半圆柱面结构与大半圆柱面结构，且通端(7)和止端(8)同心设置，通端(7)的半径大于定位部(4)的半径；使用时，定位部(4)插入零件的底孔(1)，用测量部(5)对零件的待测孔(2)进行测量，要求通端(7)能够置于待测孔(2)内且止端(8)不能置于待测孔(2)内。