发明名称 |
光栅基板短路检测方法 |
摘要 |
本发明涉及显示技术领域,公开了一种光栅基板短路检测方法,包括步骤:对光栅基板上的每条第一电极施加电压,对于每条第二电极不加电,采用探针沿第二电极所在的直线移动,检测所述第二电极的电压;判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值,若大于,则确定与第一电极短路。本发明通过电学探针检测到哪两条第一电极和第二电极短路,实现了对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测并定位,并及时反馈出短路不良的具体位置,从而提高产线良率和效益。 |
申请公布号 |
CN103487960B |
申请公布日期 |
2016.01.06 |
申请号 |
CN201310495913.0 |
申请日期 |
2013.10.21 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
发明人 |
郭会斌;王守坤 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
李相雨 |
主权项 |
一种光栅基板短路检测方法,其特征在于,包括步骤:对光栅基板上的每条第一电极施加电压,对于每条第二电极不加电,采用探针沿第二电极所在的直线移动,检测所述第二电极的电压;判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值,若大于,则确定与第一电极短路;利用光学镜头对短路的第一电极和第二电极之间的缝隙进行图像采集,并与标准的图像比较,从而准确定位第一电极和第二电极短路的具体位置。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |