发明名称 一种磁控溅射制备BMN薄膜的方法
摘要 本发明公开了一种磁控溅射制备BMN薄膜的方法,包括将衬底固定在基板支架上,打开分子泵对溅射腔室进行抽真空;到达本底真空度后,向溅射腔室内通入氩气,调节流量计,对基片再次进行清洗;关闭高压,打开基片旋转电机,调节基片转速为30rpm;当衬底温度达到温度后,先关闭靶材档板,调节射频功率至实验所需值,预溅射3-5min;通入氧气,调节流量计,设定Ar/O<sub>2</sub>体积比,使腔室气压达到溅射气压4.0Pa;调节基片电压,打开档板,开始镀膜;经过氧气氛下退火得到晶化薄膜。本发明薄膜样品中BMN的(222)面衍射峰强度增强,对薄膜组分的影响小,薄膜中各元素摩尔比几乎不随频率的变化而变化。
申请公布号 CN105220123A 申请公布日期 2016.01.06
申请号 CN201510788334.4 申请日期 2015.11.17
申请人 盐城工学院 发明人 高虹
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人 姜彦
主权项 一种磁控溅射制备BMN薄膜的方法,其特征在于,该磁控溅射制备BMN薄膜的方法包括:在阴极靶位置上安装BMN陶瓷靶材,将预处理的衬底固定在基板支架上,打开分子泵对溅射腔室进行抽真空;到达本底真空度后,向溅射腔室内通入高纯的氩气,调节流量计使气压,加高压对基片再次进行清洗;关闭高压,打开基片旋转电机,调节基片转速为30rpm;衬底温度升高,关闭靶材档板,调节射频功率至80‑200W,预溅射3‑5min;通入高纯氧气,调节流量计,设定Ar/O<sub>2</sub>体积比,并使腔室气压达到溅射气压4.0Pa;调节基片电压为100V,打开档板,开始镀膜;经过700℃氧气氛下退火30min得到晶化薄膜。
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